Excursion es la jerga del oficio en fábrica para referirse a un evento anormal que desplaza una métrica muy fuera de su franja habitual, como un pico de partículas en una herramienta, una caída de rendimiento en un grupo de lotes o un salto de parámetros tras un cambio químico. Las excursions inician una rutina familiar: retener el material afectado, definir el alcance, realizar un análisis de puntos comunes entre herramientas y pasos, solucionar la causa y decidir el destino de los lotes retenidos. Los equipos realizan el seguimiento del número de excursions y de los lotes afectados como una métrica clave.
We're calling it an excursion: 14 lots through etcher 6 since Thursday, all with the same bin 9 signature.
En español sencillo Lo estamos catalogando como una excursion: 14 lotes han pasado por la grabadora 6 desde el jueves, todos con la misma firma de clasificación 9.
La primera hora de una excursion consiste en acotar el alcance, no en buscar la causa: localice cada lote que haya tocado la herramienta sospechosa antes de que nadie empiece a teorizar.
También se escucha como
- yield excursion
- defect excursion
- yield bust
Términos relacionados
Special cause
Fuente de variación específica e identificable que no forma parte del comportamiento normal del proceso y se muestra como una señal en el gráfico.
Killer defect
Defecto que se localiza donde provoca el fallo de un chip, a diferencia de un defecto estético o irrelevante inofensivo.
Wafer map
Imagen de una oblea que muestra el resultado de la prueba o medición de cada troquel por ubicación, utilizada para detectar patrones espaciales de fallo.
OOC
Fuera de control: abreviatura para un punto o gráfico que ha violado un límite de control o una regla de racha.