Excursion est le raccourci de l'argot de métier en usine pour désigner un événement anormal qui déplace une mesure bien en dehors de sa plage habituelle, comme un pic de particules sur un outil, une baisse de rendement sur un groupe de lots ou un saut de paramètre après un changement chimique. Les excursions déclenchent une routine familière : bloquer le matériel concerné, définir la portée, lancer une analyse de points communs entre les outils et les étapes, corriger la cause et statuer sur les lots bloqués. Les équipes suivent le nombre d'excursions et de lots concernés comme un indicateur clé.
We're calling it an excursion: 14 lots through etcher 6 since Thursday, all with the same bin 9 signature.
En français simple Nous qualifions cela d'excursion : 14 lots passés par la graveuse 6 depuis jeudi, tous avec la même signature de bac 9.
La première heure d'une excursion concerne la portée, pas la cause : trouvez chaque lot qui a touché l'outil suspect avant que quiconque ne commence à théoriser.
Aussi entendu sous
- yield excursion
- defect excursion
- yield bust
Termes associés
Special cause
Source de variation spécifique et identifiable qui ne fait pas partie du comportement normal du procédé et apparaît sous forme de signal sur la carte.
Killer defect
Défaut qui se situe là où il provoque la défaillance d'une puce, par opposition à un défaut cosmétique ou mineur inoffensif.
Wafer map
Représentation visuelle d'une plaquette montrant le résultat de test ou la mesure de chaque puce par emplacement, utilisée pour repérer les motifs spatiaux de défaillance.
OOC
Hors contrôle : abréviation pour un point ou une carte qui a violé une limite de contrôle ou une règle de décision.