Un killer defect tiene el tamaño, tipo y ubicación idóneos para romper un circuito: una partícula que une dos pistas, un vacío en una vía o una rotura de patrón. Las herramientas de inspección detectan muchos más defectos de los que realmente inutilizan el chip, por lo que los ingenieros de rendimiento estiman una tasa de letalidad para cada clase de defecto (la fracción que acaba provocando un chip defectuoso) superponiendo mapas de defectos en mapas de clasificación de chips. Que un defecto inutilice o no el chip depende en gran medida de su tamaño en relación con el espaciado de las pistas en esa capa.
Most of those adders are nuisance, but the big particles on metal 2 are killers. Kill ratio's running near 60 percent.
En español sencillo La mayoría de esos defectos añadidos son irrelevantes, pero las partículas grandes en metal 2 son killer defects. La tasa de letalidad ronda el 60 por ciento.
También se escucha como
- killer
- yield killer
Términos relacionados
Defect density
Número de defectos críticos para el rendimiento por unidad de superficie de oblea o panel, la entrada principal para los modelos de rendimiento.
Yield
Fracción de unidades que resultan conformes en una etapa o en todo un proceso, la cifra clave para cualquier línea de producción.
Wafer map
Imagen de una oblea que muestra el resultado de la prueba o medición de cada troquel por ubicación, utilizada para detectar patrones espaciales de fallo.
Excursion
Desviación repentina del rendimiento, del recuento de defectos o de un parámetro clave fuera de su franja normal, lo bastante grande como para activar retenciones y una investigación.