La defect density, a menudo escrita como D0, cuenta los defectos críticos por centímetro cuadrado. El modelo de rendimiento de Poisson simple predice el rendimiento de los troqueles como e elevado a la potencia de menos el área del troquel multiplicada por D0: un troquel de 1 centímetro cuadrado con un D0 de 0.1 ofrece un rendimiento de aproximadamente el 90 por ciento, y con 0.5 solo del 61 por ciento. Los defectos reales se agrupan, por lo que el modelo de Murphy o un modelo binomial negativo con un factor de agrupación se ajusta mejor a los troqueles grandes y predice un rendimiento mayor que el de Poisson simple.
D0 came down from 0.25 to 0.12 after the filter change. On a 1 square centimeter die that's about eleven points of yield.
En español sencillo La D0 bajó de 0.25 a 0.12 tras el cambio de filtro. En un troquel de 1 centímetro cuadrado, eso supone unos once puntos de yield.
También se escucha como
- D0
- D-naught
- defects per square centimeter
Términos relacionados
Yield
Fracción de unidades que resultan conformes en una etapa o en todo un proceso, la cifra clave para cualquier línea de producción.
Killer defect
Defecto que se localiza donde provoca el fallo de un chip, a diferencia de un defecto estético o irrelevante inofensivo.
Wafer map
Imagen de una oblea que muestra el resultado de la prueba o medición de cada troquel por ubicación, utilizada para detectar patrones espaciales de fallo.
DPMO
Defectos por millón de oportunidades: recuento de defectos escalado por el número de posibilidades de que se produzca un defecto en cada unidad.