La defect density (densité de défauts), souvent notée D0, mesure le nombre de défauts critiques par centimètre carré. Le modèle de rendement simple de Poisson prévoit le rendement des puces comme e à la puissance moins la surface de la puce multipliée par D0 : une puce de 1 centimètre carré avec un D0 de 0,1 donne un rendement d'environ 90 %, et de seulement 61 % avec un D0 de 0,5. Les défauts réels ayant tendance à se regrouper, le modèle de Murphy ou un modèle binomial négatif avec un facteur de regroupement convient mieux aux grandes puces et prévoit un rendement plus élevé que le simple modèle de Poisson.
D0 came down from 0.25 to 0.12 after the filter change. On a 1 square centimeter die that's about eleven points of yield.
En français simple Le D0 est descendu de 0,25 à 0,12 après le changement de filtre. Sur une puce de 1 centimètre carré, cela représente environ onze points de yield en plus.
Aussi entendu sous
- D0
- D-naught
- defects per square centimeter
Termes associés
Yield
Fraction d'unités conformes produites à une étape ou sur l'ensemble d'un processus, le chiffre clé de toute ligne de production.
Killer defect
Défaut qui se situe là où il provoque la défaillance d'une puce, par opposition à un défaut cosmétique ou mineur inoffensif.
Wafer map
Représentation visuelle d'une plaquette montrant le résultat de test ou la mesure de chaque puce par emplacement, utilisée pour repérer les motifs spatiaux de défaillance.
DPMO
Défauts par million d'opportunités : nombre de défauts rapporté au nombre de chances de commettre un défaut dans chaque unité.