Une carte p (p chart) trace la proportion de défectueux dans chaque échantillon, comme la fraction de puces défaillantes par plaquette ou de pièces rejetées par équipe. Les limites sont p-barre plus et moins 3 fois la racine carrée de p-barre fois (1 moins p-barre) divisé par n, de sorte qu'elles s'élargissent ou se rétrécissent lorsque la taille des échantillons varie. La carte np trace le nombre de défectueux au lieu de la fraction lorsque n est constant; les cartes c et u gèrent les comptages de défauts plutôt que les unités défectueuses.
Final visual reject rate is up on the p chart, but sample size dropped to 50 on nights, so check the limits widened too.
En français simple Le taux de rejet visuel final est en hausse sur la p chart, mais la taille de l'échantillon est tombée à 50 pour l'équipe de nuit, donc vérifiez que les limites se sont bien élargies également.
Aussi entendu sous
- fraction defective chart
Termes associés
Control chart
Tracé chronologique d'une statistique de procédé avec une ligne centrale et des limites qui signalent un changement du procédé.
UCL
Limite supérieure de contrôle : la limite haute sur une carte de contrôle, associée à la limite inférieure de contrôle (LCL) sous la ligne centrale.
Acceptance sampling
Acceptation ou rejet d'un lot complet sur la base de l'inspection d'un échantillon aléatoire prélevé dans celui-ci selon un plan prédéfini.
Yield
Fraction d'unités conformes produites à une étape ou sur l'ensemble d'un processus, le chiffre clé de toute ligne de production.