El dispositivo bajo prueba (DUT) se refiere al producto físico específico que se está midiendo, sometiendo a esfuerzo o validando en un banco de pruebas o equipo de pruebas automatizado. Los ingenieros utilizan este término para distinguir el elemento que se está evaluando de los instrumentos, cables y soportes que realizan la prueba. En la fabricación de semiconductores, el DUT suele ser un único chip desnudo o encapsulado colocado en un zócalo de prueba.
Hook the logic analyzer up to the DUT and let's see if the I2C bus is actually sending an ack.
En español sencillo Conecte el analizador lógico al DUT y veamos si el bus I2C está enviando realmente un acuse de recibo.
Al configurar una medición compleja, verifique siempre la impedancia del soporte de prueba antes de conectar el DUT, o podría medir los fallos de la configuración en lugar del rendimiento del dispositivo.
Términos relacionados
Burn-in
Fase de pruebas rigurosa en la que los componentes funcionan bajo estrés para forzar fallos prematuros antes del envío.
Smoke test
La aplicación inicial de energía a un circuito recién ensamblado para comprobar si hay fallos catastróficos.
Socket
Un receptáculo mecánico y eléctrico diseñado para alojar y conectar un componente extraíble.