In einer Halbleiterfabrik ist Sort das Wafer-Proben: Jedes Die wird elektrisch getestet und klassifiziert (binned), bevor der Wafer vereinzelt wird. Die Sort-Ausbeute ist die wichtigste Ausbeutekennzahl. In der Fertigungsqualität im weiteren Sinne ist ein Sort eine 100-Prozent-Prüfung von verdächtigem Bestand, beispielsweise durch die Einrichtung einer Sortierung im Werk oder beim Kunden, während die Fehlerursache ermittelt wird. Beide Bedeutungen teilen die Idee, gute von schlechten Einheiten einzeln und nicht durch Stichproben zu trennen.
Customer found two cracked housings, so we've got a third-party sort running at their dock on everything from week 18.
In klarem Deutsch Der Kunde hat zwei gerissene Gehäuse gefunden, daher läuft an seinem Wareneingang ein Sort durch einen Drittanbieter für alles aus Woche 18.
Auch bekannt als
- wafer sort
- probe
- 100 percent inspection
- containment sort
Verwandte Begriffe
Bin
Testkategorie, in die jeder Chip oder jede Einheit beim Testen oder Endtest einsortiert wird, wobei Bin 1 meist für gut steht.
Yield
Anteil der guten Einheiten, die bei einem Prozessschritt oder im gesamten Prozess entstehen, die wichtigste Kennzahl für jede Produktionslinie.
Acceptance sampling
Annahme oder Rückweisung einer gesamten Charge basierend auf der Prüfung einer Stichprobe anhand eines vordefinierten Plans.
Wafer map
Grafische Darstellung eines Wafers, die das Testergebnis oder den Messwert jedes Chips nach Position zeigt, um räumliche Fehlermuster zu erkennen.