Bin
Bin taucht in 2 Fachgebieten auf: Gezeiten, Statistik. Hier ist, was es für die Fachleute im jeweiligen Bereich bedeutet.
Bin in Gezeiten
Eine Tiefenzelle eines ADCP-Profils, also die Wasserschicht, über die eine einzelne Geschwindigkeit gemittelt wird.
Eine Schicht der Wassersäule mit fester Dicke, oft 0,25 bis 2 m, für die ein ADCP eine Geschwindigkeit meldet. Das erste bin beginnt jenseits einer Ausblenddistanz (blanking distance) nahe dem Schwinger, wo Nachschwingen die Daten unbrauchbar macht. Bins nahe der Oberfläche oder dem Boden können durch Nebenkeulenreflexionen über etwa die letzten 6 Prozent der Reichweite bei 20-Grad-Strahlen gestört sein. Die Wahl der bin-Größe wägt vertikale Detailgenauigkeit gegen Rauschen ab.
"Top two bins are junk from sidelobe off the surface, use bin 14 down for the near-surface current."
Bin in Statistik
Testkategorie, in die jeder Chip oder jede Einheit beim Testen oder Endtest einsortiert wird, wobei Bin 1 meist für gut steht.
Beim Wafertest und Endtest wird jeder Chip oder jedes Gehäuse der Kategorie des ersten Tests zugeordnet, den er nicht besteht, oder der Qualitätsstufe, die er erreicht. Bin 1 steht typischerweise für vollständig fehlerfrei; andere Bins erfassen Fehlerarten wie Unterbrechungen, Kurzschlüsse, Leckströme oder Geschwindigkeit, und einige enthalten gute Teile, die nach Leistungsstufen sortiert sind. Bin-Paretos und Bin-Wafer-Maps sind die ersten Daten, die ein Ertragsingenieur heranzieht, wenn der Sort Yield einbricht.
"Bin 12 leakage fails tripled on the last five lots, mostly center die. Pull the gate oxide thickness data."